TRL微波器件测量去嵌入校准--实验测试

采用测量夹具得到数据必然包含夹具对待测件(DUT)的影响，为得到器件的真实S参数，必须通过校准去除该影响(通常称为去嵌入)。校准算法的功能是将测量由夹具两端测量参考面搬移到DUT两端的校准参考面，实现DUT的直接测量。